子元器件老化測試,蒸氣老化試驗箱
湖北高天蒸汽老化試驗箱,蒸汽老化試驗箱適用于子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產(chǎn)業(yè)、子零組件金屬等材料進行老化加速壽命試驗。
蒸汽老化試驗箱標準型號:
產(chǎn)品型號:GT-ZQ-34
內部尺寸:50X40X17 CM (W*H*D)
外部尺寸:60X50X42 CM (W*H*D)
溫度范圍:Upto97℃
控制器:PID微腦控制
加熱方式:PID+SSR
升溫時間:約45分鐘
計時器:9999分
壓:220V
熱(KW):2